enero 24, 2024

Una enriquecedora experiencia fue la que vivió Silvina Galván en la UMA

Por un periodo de dos semanas, Silvina Galván del Centro Integral de Microscopía Electrónica (CIME)-UNT-CONICET de Tucumán, Argentina, estuvo realizando una pasantía en la Unidad de Microscopía Avanzada de la Pontificia Universidad Católica de Chile, gracias a la adjudicación de la Beca “Ayudas de viaje para el desarrollo profesional y conexión de Imaging Facilities de […]